《科技》愛德萬測試拔頭籌,推全新SSD測試解決方案

半導體測試設備廠愛德萬測試(Advantest)。

半導體測試設備廠愛德萬測試(Advantest)領先業界運用已通過嚴謹測試的MPT3000平臺,發表針對PCIe Gen 4固態硬碟(SSD)的開發、除錯與量產全新整合式測試解決方案,將有助於SSD製造商加速新產品上市時程

愛德萬測試表示,MPT3000平臺系統已獲PCIe Gen 3、SATA與SAS SSD製造大廠採用,可能涵蓋PCIe Gen 4裝置的所有測試需求,包括進行工程測試、可靠性驗證測試(RDT)、生產測試,毋須耗時等待第三方PCIe Gen 4 SSD應用上市。

愛德萬測試指出,藉由提供客戶設計到製造的完整測試流程,新解決方案能大幅簡化過渡到下一世代裝置的進程,且使用與愛德萬測試PCIe Gen 3解決方案相同的測試架構軟體,爲SSD製造業者開拓風險最低、速度最快的產品上市途徑

愛德萬測試系統級測試副總Colin Ritchie表示,爲因應各式各樣的SSD協定與規格公司推出模組化MPT3000平臺,且在功能方面更上層樓,能協助客戶驗證和測試最新一代PCIe記憶體

Colin Ritchie指出,MPT3000 PCIe Gen 4產品已經上市,並已開始出貨給客戶。本系統具備高度彈性,再加上tester-per-DUT架構和硬體加速特點,可成爲所有工程、量產和內建自我測試電路(BIST)應用最理想的單一系統解決方案。