《科技》陸半導體展，愛德萬測試秀支援5G解決方案

愛德萬測試表示，此次將透過產品現場示範展出提供最先進的測試解決方案。包括採用最新IC測試解決方案和服務，支援人工智慧（AI）技術的可擴充式平臺，浮動電源VI source可延伸功能，涵蓋包括汽車、工業和電源管理IC應用等先進IC的測試範圍。

而供實驗室環境使用的預燒式記憶體測試系統，搭配生產測試系統使用的預燒板。採Tester-per-Site設計的高度彈性工程測試機，則可針對各種攜帶式電子產品使用的快閃記憶體進行測試。

至於具有最新HVI（高壓VI源和量測）模組的量測系統，則可擴充平臺服務範圍，涵蓋大量消費性電子產品用的高功率IC。供系統級測試用的平臺及模組，可使系統更有效測試油電混合、電動車動力傳動系統中使用的設備。

此外，愛德萬測試將以數位化展示太赫茲分析系統、掃描電子顯微鏡（SEM）、束微影術系統、探針測試卡、滿足成本效益、隨選雲端式的測試解決方案，以及愛德萬測試一系列售後服務，協助提高使用AI技術的整體設備效率（OEE）。

愛德萬測試指出，今年展覽將包括2月自Astronics公司獲得的半導體系統級測試事業介紹。同時，除了身爲今年中國大陸半導體技術大會（CSTIC）的贊助商，愛德萬測試發言人也將於2場專題研討會上發表演講。

愛德萬測試在18日舉行的「計量、可靠度和測試研討會」中，將由Anil Bhalla主講「車用半導體測試策略的關鍵考量」。在19日進行的「封裝與組裝研討會」，則由Yang Shang博士發表「透過遞迴電路建模，分析BEOL高解析度時域反射」。

愛德萬測試19日將參加針對「ATE對IC產業和其發展趨勢的重要性」舉辦的勞動力發展培訓課程「高級晶圓級封裝，系統級封裝和測試」。21日舉行的人工智慧與半導體科技論壇當中，則由Zhang Ke簡報有關使用AI設備在雲端及邊緣運算的測試解決方案。