工研院攜手日本半導體廠德山 研發原物料品質檢測技術

▲前排左起爲德山臺灣研究所課長林育如、德山臺灣研究所所長北島晃、工研院量測中心執行長林增耀、工研院量測中心副執行長藍玉屏、工研院量測中心副執行長陳炤彰。(圖/工研院提供)

記者姚惠茹臺北報導

工研院今(16)日宣佈,攜手日本半導體化材製造商德山株式會社(Tokuyama)共同研發半導體用原物料品質檢測技術,快速篩選出原物料中的不純物質,提升生產良率,未來將透過雙方技術開發與緊密合作,成爲國內半導體產業生產高品質與更高規格產品強力後盾

工研院量測技術發展中心執行長林增耀表示,自2018年起工研院就與日商德山進行交流評估臺灣半導體創新研發製程廠商優勢後,德山看準工研院擁有先進半導體奈米級品質檢測技術,優化晶圓製程原物料的檢測技術,希望提高原物料純度與品質,有提高半導體元件微小化時的產品良率。

德山株式會社取締役常務執行役員巖崎史哲提到,德山成立近百年,事業領域涵蓋化學、特殊產品、水泥醫療相關產品,這次因應半導體產業需求,與工研院展開長期合作,共同進行半導體用原物料即時品質檢測技術研發。

巖崎史哲指出,以工研院所擁有的先進半導體奈米級檢測技術,結合德山半導體化學材料相關產品技術,開發半導體產業所需前瞻量測技術,期許共同創造半導體產業更先進製程微細化的技術藍圖,滿足客戶需求的實際運用,提升臺灣半導體產業的國際競爭力

工研院強調,接受經濟部標準檢驗局委託運轉國家度量衡標準實驗室」,除了致力計量與標準的追溯外,也積極投入半導體產業包括薄膜表面分析粒子量測技術等研發,降低半導體晶圓污染風險,透過臺日間的國際合作,爲晶圓廠下世代微縮製程超前部署